当前课程知识点:现代材料分析方法 > 第二章 显微分析 > 2.5 透射电镜的电子像衬度原理 > 透射电镜的电子像衬度原理
同学们好
这节课我们一起来学习
透射电镜的电子像衬度原理
主要内容包括质厚衬度
衍射衬度和相位衬度衬度
首先
我们来看一下这几张
高熵合金激光冲击组织的TEM照片
我们通过TEM的表征
可以揭示其位错的形成过程
看到了位错壁 DWS
位错缠结 DT
位错胞 DC 和少量孪晶
证明了其主要变形方式为位错滑移
那么这样的灰度图像是如何形成的呢
依据什么原理做出上述解释的呢?
我们再看另一个报道
这是新型金属间化合物材料的
表征结果
通过透射电镜
可以鉴定晶粒内部结构
配合原子分辨能量色散X射线谱
可确定晶格中的元素分布
同时
可以看到
沿着晶界产生了一层超薄的无序层
约为5nm厚
我们还发现Fe和Co原子
在边界区表现出强烈的偏聚趋势
而Ni
Al和Ti原子则大量亏损
可见
TEM在材料的表征中
有着重要的作用
而能够根据图像得出上述结论的原理
就是透射电镜电子像衬度
在其中起着至关重要的作用
接下来给大家重点介绍什么是衬度
电子像的衬度是指
试样不同部位
由于对入射电子作用不同
经成像放大系统后
在显示装置上显示的强度差异
如果样品一个部分的
电子束强度为I1
另一个部分的电子束强度为I2
则电子像的衬度C可表示为
在透射电镜中
产生这种差异的主要原因
主要有两个方面
一个是振幅差 一个是相位差
与之相对应的衬度
分别称为振幅衬度和相位衬度
以上我们讲到的振幅衬度和相位衬度
其中振幅衬度又可分为
质厚衬度和衍射衬度
质厚衬度主要针对复型非晶材料
衍射衬度主要针对晶体材料
而对于相位衬度来说
主要用于高分辨的电子像
对于无定形或非晶体试样
由于试样各部分质量与厚度不同
造成的显微像上的明暗差别
产生的就是质厚衬度
主要为试样原子对入射电子的散射
以及小孔径角成像
由于样品的不均匀性
样品对入射电子有不同的散射能力
散射角大的电子
只有部分散射电子通过光阑参与成像
形成图像中的暗点
相反
散射角小的电子
形成图像的亮点
这两方面共同形成图像的明暗衬度
这种衬度反映了样品各点在厚度
密度和组成上的差异
前面我们已经介绍过
为了确保透射电子显微镜的
高分辨本领
采用小孔径角成像
它是通过在物镜背焦平面上
沿径向插入一个小孔径的物镜光阑
来实现的
把散射角大于α的电子挡掉
只允许散射角小于α的电子
通过物镜光阑参与成像
那么就可以得到像
影响质厚衬度的因素主要有
试样厚度和原子序数
如果试样上相邻两点的物质种类
和结构完全相同
只是电子穿越的厚度不同
则在明场像中
暗的部位对应的试样厚
亮的部位对应的试样薄
另外
大家都知道
物质的原子序数越大
散射电子的能力越强
图像上相应位置越暗
质厚衬度主要决定于散射电子的数量
散射本领大
透射电子束少的样品部分
所形成的的像要暗些
反之
则亮些
利用物质固有散射的不同
而形成的质厚衬度
可以通过明暗的区别清晰的看到单晶
粉末
萃取复型像的表面形貌
我们都知道
试样上各微区晶体取向
或者晶体结构不同
满足布拉格衍射条件的程度不同
使得在样品下表面形成一个
随位置不同而变化的衍射振幅分布
所以像的强度随衍射条件的不同
发生相应的变化
这称为衍射衬度
衍射衬度对晶体结构和取向十分敏感
当样品微区具有不同结构
或者同种结构取向不同
或者晶体内部存在有缺陷时
导致微区有不同的衍射条件
形成不同的衬度
这就可以从图像中
将微观组织显示出来
对于完整晶体来说
由于晶面在各处满足布拉格条件
这时样品各处的衍射强度都一样
不显示衬度差别
而实际晶体往往是不完整的
这一不完整性会造成衍射衬度的差别
从而可通过衍衬成像技术
观察晶体的内部变化
如由晶界
孪晶界等引起的取向关系改变
由点
线
面
体缺陷引起的弹性位移
相变
成分
组织改变等也会引起衍射差别
衍衬成像技术可对如图晶体中的位错
层错
孪晶
第二相粒子等不完整晶体
进行直接观察
衍射衬度的成像方式
分为明场像和暗场像
明暗场像是互补的
前面已介绍过
明场像是用透射束成像
可以给出研究对象的全貌
而暗场像是用单束衍射束成像
仅显示出对衍射强度
有贡献的区域的形貌
当试样很薄时
一般在10nm以下
试样相邻晶柱出射的透射振幅的
差异不足以区分相邻的
两个像点的程度
这时得不到振幅衬度
也就是上述讲过的
质厚衬度或衍射衬度都得不到
这时候怎么办呢
可以利用电子束
在试样出口表面上的相位不一致
使相位差转换成强度差
从而形成衬度
这称为相位衬度
可形成高分辨率像
透射光束和衍射光束拥有不同的相位
存在一定的相位差
透射光束与衍射光束相互干涉
形成干涉图像
形成了相位衬度
也就是高分辨像
相位衬度需满足
弱相位体近似和最佳欠焦条件
才能获得反映晶体结构的像
弱相位体近似是在试样足够薄时
使得其吸收作用可以忽略
则透射波与衍射波成为相干波
一定条件下发生干涉作用成像
右图是不同欠焦条件和样品厚度时
Y原子投影位置
即亮点
出现了图像衬度翻转
需小心求证后加以解释图像衬度
最后我们来小结一下本节课内容
这一节主要介绍了
透射电镜电子像的衬度原理
主要分为质厚衬度
衍射衬度和相位衬度
质厚衬度是由于
样品不同区域厚度或
平均原子序数差异造成的
透射束强度的差异而形成的衬度
衍射衬度是在晶体材料中
样品各部分满足
布拉格条件的程度不同
以及结构振幅不同而产生的
是晶体材料中用得最多的一种衬度
相位衬度是
由透射光束和衍射光束相互干涉
而形成的像
有相干的相位衬度像
我们称为 高分辨像
也有非相干的相位衬度像
我们称为 原子序数衬度像
就是 HAADF
这节课就讲到这里
同学们 下课
-1.1 X射线的性质及X射线的产生
-1.2 X射线谱
--X射线谱
-1.3 X射线与物质的作用
-1.4 衍射的几何条件
--衍射的几何条件
--衍射的几何条件-小测
-1.5 X射线的衍射方法
--X射线的衍射方法
--X射线的衍射方法-小测
-1.6 X射线的衍射数据
--X射线的衍射数据
--X射线的衍射数据-小测
-1.7 X射线衍射物相定性分析
--X射线衍射物相定性分析-小测
-1.8 物相定量分析方法
--物相定量分析方法
--物相定量分析方法-小测
-第一章测试题
-2.1 显微分析概论
--显微分析概论
-2.2 电子光学基础
--电子光学基础
-2.3 透射电子显微镜结构和成像原理(上)
-2.4 透射电子显微镜结构和成像原理(下)
-2.5 透射电镜的电子像衬度原理
-2.6 电子衍射
--电子衍射
-2.7 薄膜样品的制备
--薄膜样品的制备
-2.8 扫描电镜的工作原理
--扫描电镜的工作原理-小测
-2.9 电子束与固体的相互作用
--电子束与固体的相互作用-小测
-2.10 扫描电镜的结构和性能参数
--扫描电镜的结构和性能参数-小测
-2.11 二次电子像的衬度原理
--二次电子像的衬度原理-小测
-2.12 背散射电子像的衬度原理
--背散射电子像的衬度原理-小测
-2.13 波谱和能谱分析
--波谱和能谱分析
--波谱和能谱分析-小测
-2.14 扫描电镜的样品制备
--扫描电镜的样品制备-小测
-2.15 扫描隧道显微镜
--扫描隧道显微镜-测试
-2.16 原子力显微镜的工作原理及应用
--原子力显微镜的工作原理及应用-测试
-第二章测试题
-3.1 红外光谱概述与原理
--红外光谱概述与原理-小测
-3.2 红外光谱图解析与仪器构造
--红外光谱图解析与仪器构造-小测
-3.3 拉曼光谱概述与原理
--拉曼光谱概述与原理-小测
-3.4 拉曼光谱图解析和仪器构造
--拉曼光谱图解析和仪器构造-小测
-3.5 核磁共振氢谱的基本原理
-3.6 核磁共振谱仪的构造与氢谱解析
-3.7 质谱分析概述及原理
-3.8 离子的类型及质谱基本术语
-3.9 质谱分析及联用技术
-3.10 紫外-可见吸收光谱的基本原理
-3.11 紫外-可见吸收光谱的仪器构造与应用
-3.12 分子荧光光谱的基本原理
-3.13 分子荧光光谱的特征与仪器构造
-第三章测试题
-4.1 电子能谱概述
--电子能谱概述
-4.2 XPS基本原理
--XPS基本原理
-4.3 XPS结果分析
--XPS结果分析
-4.4 俄歇电子能谱(上)
-4.5 俄歇电子能谱(下)
-5.1 DTA基本原理
--DTA基本原理
-5.2 DTA基本结构
--DTA基本结构
-5.3 DTA曲线影响因素
-5.4 DTA定性定量分析
-5.5 DSC基本原理
--DSC基本原理
-5.6 热重法
--热重法
-第五章测试题