当前课程知识点:现代材料分析方法 > 第一章 X射线衍射 > 1.3 X射线与物质的作用 > X射线与物质的作用
同学们好
今天我们来一起学习第三节的内容
X射线与物质的相互作用
我们在前面章节讲过
X射线是波长很短的电磁波
穿透能力强
因此X射线跟物体作用主要是透射
吸收和散射
当一束X射线通过物体后
其强度将被衰减
它是被物质散射和吸收的结果
并且吸收是造成强度衰减的主要原因
我们首先来看吸收
如图3-1所示
强度为I0的X射线照射厚度
为t的均匀物质上
穿过深度为x处的dx厚度时的强度
衰减量dIx/Ix与dx成正比
比例系数我们用常数l来表示
我们把l称线吸收系数
对式3-1积分可得式3-2
我们把I / I0称为透射系数
从式3-2可以看出l是
X射线通过单位厚度
物质的强度衰减量
图3-2表示强度随透入
深度的指数衰减关系
很显然物质对X射线的
吸收能力与物质的密度有关
单位体积内物质量随其密度而异
因此对于一确定的物质线
吸收系数l并不是常量
为表达物质本质的吸收特性
采用质量吸收系数m来表示
m等于线吸收系数l除以
吸收物质的密度ρ
代入式(3-2)可得式3-3
式3-3中m为单位面积厚度为t的
体积中物质的质量
因此m的物理意义是
X射线通过单位面积单位质量
物质的强度衰减量
它避开了密度的影响
可以作为反映物质本身
对X射线吸收性质的物理量
下面我们来看一下质量吸收系数
与入射x光的波长
和物质原子序数Z的关系
质量吸收系数与波长的
三次方和元素的原子序数的
三次方近似地成比例
如式3-4所示
式中比例系数K4为常数
该式表明
物质的原子序数越大
对X射线的吸收能力越强
对于一定的吸收体
入射X射线波长越短
穿透能力越强
吸收系数下降
然而
随着X射线波长减小
吸收系数并非单调下降
如图3-3所示
他表示的是质量吸收系数
与波长的关系曲线
我们可以看到
吸收系数在某些波长位置突然升高
所对应的波长称为吸收限
每种物质都有其特定的一系列吸收限
吸收限是吸收元素的特征量
将这种带有特征吸收限的
吸收系数曲线称该物质的吸收谱
在了解吸收限产生原因之前
我们先来看x射线对
物质的几种常见的效应
一种是光电效应
当入射X射线光量子能量等于
或略大于吸收体原子
某壳层电子的结合能时
电子易获得能量从内层逸出
成为自由电子
称为光电子
这种光子击出电子的现象
称为光电效应
此效应将消耗大量入射能量
表现为吸收系数突增
对应的入射波长称为即为吸收限
光电效应引起的
入射能量消耗为真吸收
因光电效应处于相应的激发态的原子
将随之发生如前所述的
高能级外层电子
向低能级内层跃迁的过程
同时辐射出特征 X射线
称 X射线激发产生的
特征辐射为二次特征辐射
称这种光致发光的现象为荧光效应
X射线荧光效应
与X射线管阳极靶激发出
特征X射线的过程相似
不同的地方是荧光效应的
入射源是X光
而X射线管的入射源是高能电子
欲激发原子产生K、L
M等线系的荧光辐射
入射X 射线光量子的能量
必须大于或至少
等于从原子中击出一个K
L、M层电子所需的能量
如以K激发为例
要产生K系荧光辐射
入射X光的所具有的能量
需大于或至少等于电子k壳层结合能
入射x光所对应的临界波长
和频率需满足式3-5
荧光辐射将导致
入射X射线的大量吸收
故称 K
L、M 等为被照射物质的吸收限
对于同一元素K < K < K
这个是由于K对应
于电子K壳层与M壳层的能级差
K对应于电子K壳层
与L壳层的能级差
而吸收限K对应
于电子K壳层与真空能级的能级差
除了X射线荧光之外
由于光电效应而处于激发态的原子
还有一种释放能量的方式
及俄歇效应
原子K层电子被击出后
L层一个电子跃入 K层填补空位
此时多余的能量
不以辐射X光量子的方式放出
而是另一个L层电子
获得能量逸出原子
我们把这种一个K层空位被
两个L层空位代替的过程为俄歇效应
跃出的L层电子称为俄歇电子
每种原子的俄歇电子
均具有一定的能量
测定俄歇电子的能量
即可确定该种原子的种类
所以俄歇电子与荧光X射线一样
都是物质的化学成分信号
荧光X射线用于重元素的成分分析
俄歇电子用于表面轻元素分析
下面我们来看一下吸收限的应用
在一些衍射分析工作中
我们只希望是kα辐射的衍射线条
但X射线管中发出的X射线
除kα辐射外
还含有Kβ辐射和连续谱
它们会使衍射花样复杂化
获得单色光的方法之一
是在X射线出射的路径上
放置一定厚度的滤波片
利用吸收限两侧吸收系数
差别很大的现象选用滤波片
用以吸收不需要的辐射
而得到基本单色的X射线
如图3-4所示
可选择一种合适的材料
其吸收限恰好位于
阳极靶特征谱的K和K波长之间
且尽可能靠近K线波长
如对于Mo靶
金属Zr的吸收限恰好处
在Mo特征谱的K和K波长之间
且靠近K线
把这种材料制成薄片作为滤波片
置于入射线光路中
将强烈吸收 K线
而对 K 线吸收很少
可以获得基本上为单色的辐射
常用靶材的滤波片选择见表3-1
选择比靶材元素低一或者
二个原子序数的元素作为滤波片材料
通过调整滤波片厚度
使滤波后K的强度
仅为K强度的1/600
从表可以看出
不同阳极靶对应不同的K和K波长
还有不同的滤色片
滤色片的吸收限对应的波长
刚好介于阳极靶的K和K波长之间
如对于原子系数为26的Fe靶
选用原子系数
为25的Mn作为滤波片材料
Ni靶的原子系数为28
选用原子序数为27的
Co作为滤波片
对于原子系数小于40的阳极靶
选用滤波片的原子序数比阳极靶小1
对于原子序数>40的靶材
如Mo靶
选用比靶材元素低2个原子系数的
Zr元素作为滤波片材料
吸收限还可作为选择
X射线管阳极靶材的重要依据
在衍射分析时
我们不希望入射的
X射线激发出样品的大量荧光辐射
大量的荧光辐射会
增加衍射花样的背底
使图象不清晰
也就是说希望试样对
X射线的吸收尽可能少
以获得高的衍射强度和低的背底
避免出现大量荧光辐射的原则
就是选择入射X射线的波长
使其不被样品强烈吸收
因此应按图3-5所示选用靶材
靶材产生的入射X射线波长T
略大于或远小于试样的
吸收限K的波长
即根据样品选择靶材的原则是
靶材元素的原子系数小于等于样品元素的原子系数减去1
或者靶材的原子系数远大于样品的元素原子序数
X 射线穿过物质后强度产生衰减
除主要部分是由于真吸收消耗于光电效应和热效应
还有一部分是偏离了原来的入射方向
即散射
散射效应包括两部分
相干散射和不相干散射
相干散射不相干散射有能量交换
散射的波长与原波长不同
相干散射没有能量交换
因为没有能量交换
波长与能量均没有变化
仅改变方向
下面我们来看一下相干散射
当入射X射线与受原子核束缚
较紧的内层电子相遇
使电子在X射线交变电场作用下
发生受迫振动
像四周辐射与
入射X射线波长相同的辐射
因各电子散射的X射线波长相同
有可能相互干涉
因此称相干散射
亦称经典散射
相干散射波虽然仅占
入射能量的极小部分
但由于他的相干特性而成为
X 射线衍射分析的基础
当 X射线与自由电子或
受核束缚较弱的电子碰撞时
使电子获得部分能量
离开原子核而成为反冲电子
X 射线能量损失
而发生波长变长的不相干散射
不相干散射效应首先
由美国物理学家康普顿
和我国的吴有训在1923年发现
并用 X射线光量子
与自由电子碰撞的
量子理论解释这一现象
见图3-6
不相干散射亦称量子散射
因散射线分布于各个方向
波长各不相等
不能产生干涉现象
在衍射分析中形成背底
好
本节课就到这里
谢谢大家
-1.1 X射线的性质及X射线的产生
-1.2 X射线谱
--X射线谱
-1.3 X射线与物质的作用
-1.4 衍射的几何条件
--衍射的几何条件
--衍射的几何条件-小测
-1.5 X射线的衍射方法
--X射线的衍射方法
--X射线的衍射方法-小测
-1.6 X射线的衍射数据
--X射线的衍射数据
--X射线的衍射数据-小测
-1.7 X射线衍射物相定性分析
--X射线衍射物相定性分析-小测
-1.8 物相定量分析方法
--物相定量分析方法
--物相定量分析方法-小测
-第一章测试题
-2.1 显微分析概论
--显微分析概论
-2.2 电子光学基础
--电子光学基础
-2.3 透射电子显微镜结构和成像原理(上)
-2.4 透射电子显微镜结构和成像原理(下)
-2.5 透射电镜的电子像衬度原理
-2.6 电子衍射
--电子衍射
-2.7 薄膜样品的制备
--薄膜样品的制备
-2.8 扫描电镜的工作原理
--扫描电镜的工作原理-小测
-2.9 电子束与固体的相互作用
--电子束与固体的相互作用-小测
-2.10 扫描电镜的结构和性能参数
--扫描电镜的结构和性能参数-小测
-2.11 二次电子像的衬度原理
--二次电子像的衬度原理-小测
-2.12 背散射电子像的衬度原理
--背散射电子像的衬度原理-小测
-2.13 波谱和能谱分析
--波谱和能谱分析
--波谱和能谱分析-小测
-2.14 扫描电镜的样品制备
--扫描电镜的样品制备-小测
-2.15 扫描隧道显微镜
--扫描隧道显微镜-测试
-2.16 原子力显微镜的工作原理及应用
--原子力显微镜的工作原理及应用-测试
-第二章测试题
-3.1 红外光谱概述与原理
--红外光谱概述与原理-小测
-3.2 红外光谱图解析与仪器构造
--红外光谱图解析与仪器构造-小测
-3.3 拉曼光谱概述与原理
--拉曼光谱概述与原理-小测
-3.4 拉曼光谱图解析和仪器构造
--拉曼光谱图解析和仪器构造-小测
-3.5 核磁共振氢谱的基本原理
-3.6 核磁共振谱仪的构造与氢谱解析
-3.7 质谱分析概述及原理
-3.8 离子的类型及质谱基本术语
-3.9 质谱分析及联用技术
-3.10 紫外-可见吸收光谱的基本原理
-3.11 紫外-可见吸收光谱的仪器构造与应用
-3.12 分子荧光光谱的基本原理
-3.13 分子荧光光谱的特征与仪器构造
-第三章测试题
-4.1 电子能谱概述
--电子能谱概述
-4.2 XPS基本原理
--XPS基本原理
-4.3 XPS结果分析
--XPS结果分析
-4.4 俄歇电子能谱(上)
-4.5 俄歇电子能谱(下)
-5.1 DTA基本原理
--DTA基本原理
-5.2 DTA基本结构
--DTA基本结构
-5.3 DTA曲线影响因素
-5.4 DTA定性定量分析
-5.5 DSC基本原理
--DSC基本原理
-5.6 热重法
--热重法
-第五章测试题