当前课程知识点:材料现代研究方法 > 第四章 X射线衍射基本实验技术 > 4.2 多晶衍射仪 > 多晶衍射仪
同学你好
这节课我要讲的内容是多晶衍射仪
对于X射线衍射
我们用的最多的一种设备就是X射线衍射仪
它是一种X射线衍射的装置
它采用辐射探测器
也就是计数管来代替这个底片
探测和记录衍射花样
这个方法的优点很多
比如说它快速准确
而且方便自动化程度也高
目前应用得非常广泛
这个衍射仪
它一共有几个主要部分构成
一个是X射线的发生装置
也就是咱们说那个X光管那部分
还有一部分是测角仪系统
就是记录这个
不同旋转角度的时候衍射情况的
还有一个就是探测装置
这么几个主要的组成部分
首先说一下测角仪系统
测角仪系统是衍射仪的重要组成部分
它主要是用来测量和记录
各衍射线的布拉格角
强度线性等数据的装置
这个测角仪系统我们给它划分出两个圆
一个是测角仪圆
测角仪圆的组成是样品处于圆心的位置
这是入射线的位置
这是接收器的位置
入射线和接收器都处在测角仪圆上
而聚焦圆是指
这个圆过入射线的位置
同时它的圆心是在样品的
面法线方向上
这是它聚焦的位置
所以它是由这样两个
圆构成的
由于说我们在测量过程当中
需要进行样品的转动
或者是入射线和探测器的转动
为了保证它们的聚焦关系
我们要求这样品在转动过程当中
是按照一定的规律来转动的
比如说当你样品不动的时候
我要求入射线和探测器
以相同的角速度进行转动
这时候能保证它聚焦
如果说入射线不动
样品转动
那么你探测器的转动速度就要是
样品转动速度的二倍
你比如像这个图一样
现在样品不动
你入射线的位置转动倒过来
然后这是探测器的位置
要求它俩以相同的角速度转动
这样才能够保证它的一个聚焦性
这里边还有几个附件
比如说这有S1 S2它是什么
这是咱们说的那个索拉狭缝
它可以限制
X射线在纵向方向的散射发散
也就使在纵向方向X光尽量是保持平行
还有一个狭缝是DS狭缝
DS狭缝
放在最前面的在这个位置
它是限制从X光管发散出来的X射线的角度
所以这是一个发散狭缝
还有两个一个叫做
SS就是防散射狭缝
它是用来阻挡其它射线的
还有一个叫RS狭缝就是接收狭缝
它是与探测器相连
直接探测衍射强度的
一般来讲
衍射仪采用这样两种光路系统
一个是聚焦光就发散的x射线
出来之后打到样品上聚焦
然后进行探测接收
这个是咱们说的一个聚焦光路
还有就是它从
x光管出来的x射线
是平行光
平行光它打到样品上之后
它没有聚焦直接进行
给它接收
平行光有很多优点
你比如做应力分析
做这个织构分析
它都显示非常大的优势
这一点还是应用的也越来越多
这几个狭缝的选择我们来说
一般来说发散狭缝
它决定了X射线水平方向的发散角
一般来讲你发散角越大照射的面积越大
那么它的衍射强度也就会越高
但是你发散角如果太大
就容易造成精度的下降
防散射狭缝它主要是
用来防止其它散射的X射线
它一般与DS选同一个角度
接收狭缝
接收狭缝最主要的是影响了这个分辨率
我们说一般来讲你分辨率想高的话
那我就要把接收狭缝弄的尽量小一点
这样提高它的准确性
当然你狭缝太小会造成什么效果
就是强度太低这是两方面的问题
另外一个主要部分叫辐射探测器
辐射探测器
实际上就是用来记录X光的强度的
我们称为计数管
代替了咱们说那个照相的底片的作用
这辐射探测器有三种
一种叫正比计数器
一种叫闪烁计数器和Si(Li)探测器
这么三种
这是一个正比计数器示意图
正比计数器是利用X射线对气体的电离效应
和气体放大原理设计的
一般来讲这个探测器是
圆形的圆柱形的
它中心这个细丝是一个阳极
圆筒的外壳是阴极
它在工作时候这里边充少量的
惰性气体和负电性的气体
然后加速器加有一定的稳定的直流高压
这样当你X线打到这个铍窗口
进入这个探测器的时候
它会使这个气体发生电离
电离之后
电子就向中心快速移动
然后离子向外边来移动
电子在加速运动过程当中
会与其它的气体的原子发生碰撞
再次产生电离
这样是一个连锁的这种过程
所以就会在阳极上产生电流脉冲
这个脉冲值与光子的能量成正比
我们将这个脉冲值测量出来
就反映了这个X光的能量
所以这是这个正比计数器的一个原理
还有叫闪烁计数器
闪烁计数器是由闪烁晶体
和光电倍增管组成的
和光电倍增管组成的
光电倍增管是一种真空光电器件
它可以把紫外线可见的红外辐射等
光信号转变成电信号并加以放大
这是它的那个原理
还有就叫半导体固体探测器
半导体固体探测器
是利用Si当中渗入少量的Li
形成具有特殊的P-N结的二极管
这样当X光子造出来之后
它会激发半导体中产生电子空穴对
这个产生的电子空穴对数目
与X光子能量是成正比的
所以我们就根据这个原理制造了这个半导体
固体探测器来探测入射X光的能量
这是三种典型的这种探测器的原理
这三种探测器
它的能量分辨率是有差别的
首先咱们看这是闪烁计数器
如果说有一个脉冲幅值为5.9keV的
X光子
那么闪烁计数器
它的测到的概率分布是这样一个分布
这个分布是很宽的
如果正比计数器就比它要窄一些
我们看这个半导体固体探测器
它的能量分辨率就集中在
5.9旁边的很小的一个范围内
甚至它对KαKβ都能够分辨出来
所以我们看这三种探测器当中
半导体固体探测器它的能量分辨率是最高的
也是最好的
另外在衍射仪当中现在往往还配备一个附件
叫单色器
单色器它是选用反射能力强的单晶体物质做的
它将反射能力强的这个晶面切成薄片
并弯成相应内半径为R的一个圆弧
大家注意的是
那个反射晶面的曲率半径为2R
就说你这个弯这个是R
那么它这反射晶面的曲率是2R
它俩不一样
将入射线源放在单色器的特定位置上
经反射会形成强度很高的单色x射线
这是单色器的一个应用
现在很多设备上都加了这个单色器
它能够对这个数据的净化起到很好的作用
这节课内容就给大家介绍到这里
-1.1 晶体、空间点阵及晶体学参数
-1.2 倒易点阵
--布拉菲点阵
-1.3 晶体的宏观对称
--晶体的宏观对称
-1.4 晶体的微观对称
--晶体的微观对称
-1.5 倒易点阵
--倒易点阵
-1.6 倒易点阵的应用
--倒易点阵的应用
-1.7 晶体投影
--晶体投影
-1.8 晶体投影的应用
--晶体投影的应用
-1.9 单晶体标准投影图
--单晶体标准投影图
-1.9 单晶体标准投影图--作业
-2.1 X射线的产生
--X射线的产生
-2.2 X射线与物质的相互作用
-2.3 X射线的吸收限与滤波片
-2.4 连续X射线
--连续X射线
-2.5 特征X射线
--特征X射线
-2.5 特征X射线--作业
-3.1 一个电子对X射线的散射
-3.2 一个原子对X射线的散射
-3.3 简单晶体对X 射线的衍射
-3.4 复杂晶体对X射线的衍射
-3.5 爱瓦德作图法
--爱瓦德作图法
-3.5 爱瓦德作图法--作业
-4.1 粉末照相法
--粉末照相法
-4.2 多晶衍射仪
--多晶衍射仪
-4.3 多晶体衍射峰特征
--多晶体衍射峰特征
-4.4 多晶体衍射峰强度
--多晶体衍射峰强度
-4.5 多晶体花样分析
--多晶体花样分析
-4.5 多晶体花样分析--作业
-5.1 晶块尺寸与微观应力的宽化
-5.2 晶胞常数的精确确定
-5.3 宏观应力的测定
--宏观应力的测定
-5.4 织构的表征
--织构的表征
-5.5 织构的测定
--织构的测定
-5.6 织构分析
--织构分析
-5.7 物相定性分析
--物相定性分析
-5.8 物相定量分析
--物相定量分析
-5.8 物相定量分析--作业
-6.1 电子波与电磁透镜
--电子波与电磁透镜
-6.2 电磁透镜的像差与分辨率
-6.3 电磁透镜的景深和焦长
-6.3 电磁透镜的景深和焦长--作业
-7.1 透射电子显微镜的结构与成像原理
-7.2 透射电子显微镜主要部件的结构与工作原理
-7.3 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定
-7.4 透射电子显微镜样品制备
-7.4 透射电子显微镜样品制备--作业
-8.1 概述
--概述
-8.2 电子衍射原理
--电子衍射原理
-8.3 晶带定律与零层倒易截面
-8.4 倒易阵点的扩展与偏移矢量
-8.5 倒易阵点与电子衍射图的关系
-8.6 衍射斑点指数化
--衍射斑点指数化
-8.7 选区电子衍射
--选区电子衍射
-8.8 单晶电子衍射花样的标定
-8.9 复杂电子衍射花样的标定
-8.9 复杂电子衍射花样的标定--作业
-9.1 衍射衬度成像原理
--衍射衬度成像原理
-9.2 消光距离
--消光距离
-9.3 衍衬运动学
--衍衬运动学
-9.4 衍衬动力学简介
--衍衬动力学简介
-9.5 晶体缺陷分析
--晶体缺陷分析
-9.5 晶体缺陷分析--作业
-10.1 电子束与固体样品作用时产生的信号
-10.2 扫描电子显微镜的构造和工作原理
-10.3 扫描电子显微镜的主要性能
-10.4 表面形貌衬度原理及其应用
-10.5 原子序数衬度原理及其应用
-10.6 电子探针仪的结构与工作原理
-10.7 电子探针仪的分析方法及应用
-10.7 电子探针仪的分析方法及应用--作业