当前课程知识点：材料现代研究方法 > 第四章 X射线衍射基本实验技术 > 4.4 多晶体衍射峰强度 > 多晶体衍射峰强度
同学你好
这节课我要给大家讲的内容是多晶体衍射峰强度
在多晶体衍射当中
我们能够得到一个衍射强度和2θ的曲线
这个曲线是由衍射峰构成的
衍射峰的强度应该以
衍射峰下的面积来代表
我们称为HKL晶面的累积强度
这衍射峰的强度
可以用这样一个公式来表示
这里边这几项
我们来分析一下
N
N这项
他是单位试样体积的晶胞数目
F是咱们说那个结构因数
这一项是咱们做电子衍射分析的时候得到的
它是表示了
距离试样R处一个电子散射X射线的强度
所以
这个式子当中的前面这三项
是与晶体结构
和HKL晶面有关的
那么后面这几项它有不同的含义
这一项是一个温度因数
这是个体积因数
这是个吸收因数
还有多重性因数这几项构成的
我们将刚才那个式子
进行重新的组合
将所有含有θ的项
给它提取出来
组成这个
这个因数咱们称为角因数
这个角因数我们可以画出这样一个曲线
大家可以看出这是随着θ角的变化
这个角因数的值的大小是这样变化的
另外这里边还有一项
大家看一下
这个
这一项
就是这个
它是一个温度因数
温度因数
它是将
强度从绝对零度
变换成测量的温度下的
HKL晶面的衍射强度
这个M值咱们是可以通过这个式子
进行计算的
尤其是在高温的时候
大家这一项是必须得进行考虑的
还有一项就是
咱们说的体积因数
咱们说你得到的德拜环
是这样一个德拜环衍射的时候
那实际上我测量的
只是其中的很小的一小段
那么它的衍射体积
并不是说
整个衍射环上的衍射我都测量出来了
而是其中只有一小段测量出来
在上面的公式当中
这一项
是个体积因数
这个体积因数就是说
当你X射线照射到这个样品上之后
并不是所有的晶粒
都能够满足布拉格条件发生衍射
其中能够发生衍射的晶粒
只是
处于布拉格位置的晶粒
它的面法线分布在这个条带上
它的衍射线处于这个圆环上
所以这个
它这个体积我们是可以通过这个比值算出来的
所以
发生衍射
这个衍射体积我们需要乘以一个因子
另外一个因数是吸收因数
如果在衍射仪测量过程当中
样品是板状样品的话
并且样品是无限厚的时候
我们可以根据x射线在物质当中的吸收规律
计算出随θ角变化吸收因数
是正比于这个
1/2μ的
这个是一个常数
这个是很方便的
如果对于其它形状样品
那个我们是需要计算的
你比如圆柱的细丝等等
这个吸收因数
随着θ角是有变化的需要计算
这个Δl
是因为
咱们说你测量的衍射圆锥当中
它实际上只是探测器测到了其中的一小段
这个表示测量的
那一小段的数量
所以还有一个
就这一项
叫多重性因子这一项
多重性因子
多重性因子是表示的晶面重复的次数
你比如说
立方系的100晶面
它的多重性因子是几个
六个
你比如说100 010 001
-100 0-10 00-1这样六个
另外考虑衍射强度的时候
还要考虑一些因素
你比如说
咱们说初级消光和次级消光这两个因素
什么是初级消光
就说你当入射线照到这个晶面上的时候
它经过了衍射
衍射到这之后
如果在这个晶面又发生了再次衍射
这样它入射线的方向与二次衍射线
它俩是同向的
同向的
但是它们的相位差是差了一个π
这时候
就产生的这个现象
咱们称为初级消光
还有一种情况
就比如说这是入射线
在上面有一组晶粒
它正好满足布拉格条件
那么它将X射线衍射出去
那么下边的晶粒衍射的份数就少了
这叫次级消光
所以
对于衍射峰强度的衡量
我们说一方面有很多的因数
温度
吸收因数
还有多重性因子
结构因数等等
还有这初级消光和次级消光
这些咱们在衍射的时候要进行综合的考虑
好这节课内容
就给大家介绍到这里
-1.1 晶体、空间点阵及晶体学参数
-1.2 倒易点阵
--布拉菲点阵
-1.3 晶体的宏观对称
--晶体的宏观对称
-1.4 晶体的微观对称
--晶体的微观对称
-1.5 倒易点阵
--倒易点阵
-1.6 倒易点阵的应用
--倒易点阵的应用
-1.7 晶体投影
--晶体投影
-1.8 晶体投影的应用
--晶体投影的应用
-1.9 单晶体标准投影图
--单晶体标准投影图
-1.9 单晶体标准投影图--作业
-2.1 X射线的产生
--X射线的产生
-2.2 X射线与物质的相互作用
-2.3 X射线的吸收限与滤波片
-2.4 连续X射线
--连续X射线
-2.5 特征X射线
--特征X射线
-2.5 特征X射线--作业
-3.1 一个电子对X射线的散射
-3.2 一个原子对X射线的散射
-3.3 简单晶体对X 射线的衍射
-3.4 复杂晶体对X射线的衍射
-3.5 爱瓦德作图法
--爱瓦德作图法
-3.5 爱瓦德作图法--作业
-4.1 粉末照相法
--粉末照相法
-4.2 多晶衍射仪
--多晶衍射仪
-4.3 多晶体衍射峰特征
--多晶体衍射峰特征
-4.4 多晶体衍射峰强度
--多晶体衍射峰强度
-4.5 多晶体花样分析
--多晶体花样分析
-4.5 多晶体花样分析--作业
-5.1 晶块尺寸与微观应力的宽化
-5.2 晶胞常数的精确确定
-5.3 宏观应力的测定
--宏观应力的测定
-5.4 织构的表征
--织构的表征
-5.5 织构的测定
--织构的测定
-5.6 织构分析
--织构分析
-5.7 物相定性分析
--物相定性分析
-5.8 物相定量分析
--物相定量分析
-5.8 物相定量分析--作业
-6.1 电子波与电磁透镜
--电子波与电磁透镜
-6.2 电磁透镜的像差与分辨率
-6.3 电磁透镜的景深和焦长
-6.3 电磁透镜的景深和焦长--作业
-7.1 透射电子显微镜的结构与成像原理
-7.2 透射电子显微镜主要部件的结构与工作原理
-7.3 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定
-7.4 透射电子显微镜样品制备
-7.4 透射电子显微镜样品制备--作业
-8.1 概述
--概述
-8.2 电子衍射原理
--电子衍射原理
-8.3 晶带定律与零层倒易截面
-8.4 倒易阵点的扩展与偏移矢量
-8.5 倒易阵点与电子衍射图的关系
-8.6 衍射斑点指数化
--衍射斑点指数化
-8.7 选区电子衍射
--选区电子衍射
-8.8 单晶电子衍射花样的标定
-8.9 复杂电子衍射花样的标定
-8.9 复杂电子衍射花样的标定--作业
-9.1 衍射衬度成像原理
--衍射衬度成像原理
-9.2 消光距离
--消光距离
-9.3 衍衬运动学
--衍衬运动学
-9.4 衍衬动力学简介
--衍衬动力学简介
-9.5 晶体缺陷分析
--晶体缺陷分析
-9.5 晶体缺陷分析--作业
-10.1 电子束与固体样品作用时产生的信号
-10.2 扫描电子显微镜的构造和工作原理
-10.3 扫描电子显微镜的主要性能
-10.4 表面形貌衬度原理及其应用
-10.5 原子序数衬度原理及其应用
-10.6 电子探针仪的结构与工作原理
-10.7 电子探针仪的分析方法及应用
-10.7 电子探针仪的分析方法及应用--作业
