当前课程知识点:材料现代研究方法 > 第六章 电子光学基础 > 6.2 电磁透镜的像差与分辨率 > 电磁透镜的像差与分辨率
同学 你好
我们这节课来学习电磁透镜的像差与分辨率
电镜的像差分为两类
即几何像差和色差
几何像差是因为透镜磁场
几何形状上的缺陷而造成的
几何像差主要是指球差和像散
而色差则是由于电子波的波长或能量
发生一定幅度的改变而造成的
下面我们将分别讨论球差
像散和色差形成的原因
并指出减小这些像差的途径
我们首先来看一下球差
球差也就是球面像差
是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域
对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的
离开透镜主轴较远的电子
也就是远轴电子
比主轴附近的电子近轴电子
被折射的程度要更大一些
从这个图中我们可以看出来
当物点P
这个P点
它通过透镜成像时
电子就不会聚到同一个焦点上
从而会形成一个散焦斑
最小的散焦斑的半径可以用Rs
我们用Rs来进行表示
如果把Rs除以放大倍数
就可以把它折算到物平面上去
这样的话ΔrS可以用来表示球差大小的量
也就是说物平面上两点距离
小于二倍的ΔrS的时候
那么这个时候透镜就不能分辨
也就是说在透镜的像平面上
得到的就是一个点了
ΔrS可以通过下面的这个公式来进行计算
ΔrS等于1/4的Cs乘以α的三次方
在这个公式中
Cs为球差系数
通常情况下
物镜的球差系数Cs的值是1-3mm
而α角为孔径半角
根据这个公式我们可以看出
如果想减少球差就可以减小Cs值
并且可以通过缩小孔径角α来进行实现
因为球差ΔrS与孔径半角α是乘三次方的关系
所以使用小孔径角成像时
可以使球差明显的减小
我们再来看一下像散
像散是由透镜磁场的非旋转对称而引起的
由于极靴内孔不圆
上下极靴的轴线错位
制作极靴的材料材质不均匀
以及极靴孔周围局部污染等等原因
都会使得电磁透镜的磁场产生椭圆度
透镜磁场的这种非旋转对称
会使得它在不同方向上的聚焦能力出现差别
结果会使得物点P点
不能够在像平面上聚焦成一点
如这个图所示
在聚焦最好的情况下
能够得到最小的散焦圆斑
最小散焦斑的半径为RA
如果把这个半径折算到物点P的这个位置上去
就会形成了一个半径为ΔrA的这样的一个圆斑
如果用这个ΔrA来表示像散的大小
这个公式可以写成ΔrA等于ΔfA乘以α
在这个公式中ΔfA为电磁透镜
出现椭圆度时造成的焦距差
α同样为孔径半角
如果电磁透镜在制造过程中已存在固有的像散
则可以通过引入一个强度和方位
都可以调节的矫正磁场来进行补偿
这个产生矫正磁场的装置就是消像散器
我们再来看一下色差
色差是由于入射电子波长
或者能量的非单一性所造成的
这张示意图我们可以看到
如果入射电子它的能量出现了一定差别
能量大的电子在距离透镜光心比较远的位置聚焦
而能量比较低的电子
则在距离光心比较近的位置聚焦
由此会造成一个焦距差
使得像平面在长焦点和短焦点之间发生了移动
这样的话也可以得到一个最小的散焦斑
用Rc来进行表示
同样我们可以把Rc折算到物点P的位置上
这个半径大小是等于ΔrC
这个值我们可以用下面的这个公式来进行表示
我们可以看到这个ΔrC是等于Cc乘以α
乘以这个ΔE比上E的这个值
在这个公式中Cc是为色差的系数
而这个相应的这个ΔE比上E的这个值
是为电子束能量的变化率
如果当我们的色差系数和孔径角α一定的时候
我们电子束能量变化率ΔE比上E的这个数值
是取决于加速电压的稳定性
和电子穿过样品时发生非弹性散射的程度
如果样品很薄
我们就可以忽略掉
电子穿过样品时发生的非弹性散射
因此只要采取稳定的加速电压的方法
就可以有效的减小色差
我们再来看一下分辨率
电磁透镜的分辨率
是由衍射效应和球面像差来决定的
我们首先来看一下衍射效应对分辨率的影响
由衍射效应所限定的分辨率
在理论上可以由瑞利公式来进行计算
下面这个公式就是瑞利公式
Δr0等于0.61乘以λ的比上N乘以sinα
在这个公式中Δr0为成像物体
也就是我们样品上能够分辨出来的
两个物点之间的最小距离
用它来表示分辨率的大小
Δr0越小透镜的分辨率越高
λ为波长
N是为这个介质的相对折射系数
α是透镜的孔径半角
我们来说一下这个Δr0它的物理含义
我们可以来看一下这幅图
这个是两个点光源成像时
形成的这个Airy斑的一个这个示意图
在图中物体上的物点
这两个物点S1与S2
它通过这个透镜进行成像的时候
由于衍射效应
它在像平面上得到的并不是一个点
而是一个中心最亮
周围带有明暗相间的这样的同心圆环的圆斑
也就是所谓的Airy斑
如果样品上有两个物点S1和S2
通过透镜成像在像平面上
会产生两个Airy斑
S1'和S2'
从图中我们可以看出
如果这两个Airy斑相互靠近
当两个光斑强度峰之间的强度谷值
比强度峰低于19%的时候
这个时候这个强度对于人眼来说
是刚刚有所感觉的
也就是说这个反差值是人眼能否感觉出存在
S1'和S2'两个斑点的临界值
在峰谷之间出现19%强度差值时
这个时候像平面上S1'和S2'之间的距离
正好等于Airy斑的半径R0
这样折算回物平面上点S1和S2的位置上
就能形成两个以Δr0等于R0
比上放大倍数M为半径的小圆斑
那么这两个圆斑之间的距离与它们的半径相等
如果把两点间的距离进一步缩小
就无法通过透镜把像S1'和S2'分辨出来了
因此Δr0就是衍射效应限定的透镜的分辨率
那么如果只考虑衍射效应
在照明光源和介质一定的条件下
孔径半角α越大
透镜的分辨率越高
我们再来看一下像差对分辨率的影响
前面讲到由于球差 像散和色差的影响
物体上的光点在像平面上都会扩展成散焦斑
各散焦斑半径折算回物体后所得到的
ΔrS ΔrA和ΔrC它们的值
自然就成了由球差 像散和色差所限定的分辨率
因为电磁透镜总是会聚透镜
所以球差便成为限制电磁透镜分辨率的主要因素
所以球差便成为限制电磁透镜分辨率的主要因素
我们知道球差散焦斑的半径折算后
ΔrS等于1/4的Cs乘以这个α的立方
如果使球差变小的话
是可以通过减小孔径半角α来进行实现的
但是从衍射效应来看
也就是说我们刚才讲到的这个瑞利公式
从这个公式来看
如果我们把α这个值减小的话
将会使得这个得到Δr0相应的变大
使得分辨率下降
如果要同时考虑衍射和球差对分辨率的影响
两者是必须要兼顾的
确定电磁透镜的最佳孔径半角
使得衍射效应Ariy斑和球差散焦斑
尺寸大小相等
比如说使得我们的Δrs和我们的Δr0相等
这个时候表明两者
对透镜分辨率的影响效果是一样的
我们通过联立两个公式
我们可以得到最佳孔径半角α0是等于12.5
乘以λ的比上Cs的1/4次方
这样电磁透镜分辨率相应的这个Δr0
就等于A乘以λ的3/4次方
乘以Cs的1/4次方
其中这个A是为常数
由此可见提高电磁分辨率的主要途径
是提高加速电压
也就是说减小电子束的波长λ
和减小球差系数Cs
好 这节课我们就介绍到这里
-1.1 晶体、空间点阵及晶体学参数
-1.2 倒易点阵
--布拉菲点阵
-1.3 晶体的宏观对称
--晶体的宏观对称
-1.4 晶体的微观对称
--晶体的微观对称
-1.5 倒易点阵
--倒易点阵
-1.6 倒易点阵的应用
--倒易点阵的应用
-1.7 晶体投影
--晶体投影
-1.8 晶体投影的应用
--晶体投影的应用
-1.9 单晶体标准投影图
--单晶体标准投影图
-1.9 单晶体标准投影图--作业
-2.1 X射线的产生
--X射线的产生
-2.2 X射线与物质的相互作用
-2.3 X射线的吸收限与滤波片
-2.4 连续X射线
--连续X射线
-2.5 特征X射线
--特征X射线
-2.5 特征X射线--作业
-3.1 一个电子对X射线的散射
-3.2 一个原子对X射线的散射
-3.3 简单晶体对X 射线的衍射
-3.4 复杂晶体对X射线的衍射
-3.5 爱瓦德作图法
--爱瓦德作图法
-3.5 爱瓦德作图法--作业
-4.1 粉末照相法
--粉末照相法
-4.2 多晶衍射仪
--多晶衍射仪
-4.3 多晶体衍射峰特征
--多晶体衍射峰特征
-4.4 多晶体衍射峰强度
--多晶体衍射峰强度
-4.5 多晶体花样分析
--多晶体花样分析
-4.5 多晶体花样分析--作业
-5.1 晶块尺寸与微观应力的宽化
-5.2 晶胞常数的精确确定
-5.3 宏观应力的测定
--宏观应力的测定
-5.4 织构的表征
--织构的表征
-5.5 织构的测定
--织构的测定
-5.6 织构分析
--织构分析
-5.7 物相定性分析
--物相定性分析
-5.8 物相定量分析
--物相定量分析
-5.8 物相定量分析--作业
-6.1 电子波与电磁透镜
--电子波与电磁透镜
-6.2 电磁透镜的像差与分辨率
-6.3 电磁透镜的景深和焦长
-6.3 电磁透镜的景深和焦长--作业
-7.1 透射电子显微镜的结构与成像原理
-7.2 透射电子显微镜主要部件的结构与工作原理
-7.3 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定
-7.4 透射电子显微镜样品制备
-7.4 透射电子显微镜样品制备--作业
-8.1 概述
--概述
-8.2 电子衍射原理
--电子衍射原理
-8.3 晶带定律与零层倒易截面
-8.4 倒易阵点的扩展与偏移矢量
-8.5 倒易阵点与电子衍射图的关系
-8.6 衍射斑点指数化
--衍射斑点指数化
-8.7 选区电子衍射
--选区电子衍射
-8.8 单晶电子衍射花样的标定
-8.9 复杂电子衍射花样的标定
-8.9 复杂电子衍射花样的标定--作业
-9.1 衍射衬度成像原理
--衍射衬度成像原理
-9.2 消光距离
--消光距离
-9.3 衍衬运动学
--衍衬运动学
-9.4 衍衬动力学简介
--衍衬动力学简介
-9.5 晶体缺陷分析
--晶体缺陷分析
-9.5 晶体缺陷分析--作业
-10.1 电子束与固体样品作用时产生的信号
-10.2 扫描电子显微镜的构造和工作原理
-10.3 扫描电子显微镜的主要性能
-10.4 表面形貌衬度原理及其应用
-10.5 原子序数衬度原理及其应用
-10.6 电子探针仪的结构与工作原理
-10.7 电子探针仪的分析方法及应用
-10.7 电子探针仪的分析方法及应用--作业