当前课程知识点：材料现代研究方法 > 第七章 透射电子显微镜 > 7.3 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定 > 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定
同学你好
我们这节课来学习
透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定
首先我们来看一下分辨率的测定
分辨率的测定分为
点分辨率的测定和晶格分辨率的测定
首先我们来看一下点分辨率的测定
点分辨率是指透射电镜刚能分清的
两个独立颗粒的间隙或中心距离
点分辨率的测定方法是将铂或铂铱等金属
或合金用真空蒸发的方法
蒸发到火棉胶或碳支撑膜上
可以得到粒径为0.5到1个纳米
间距在0.2到1个纳米之间的粒子
在透射电镜高倍下拍摄粒子像再光学放大五倍
从照片上找到粒子之间最小的间距
除以总的放大倍数
即为相应的点分辨率
我们再来看一下晶格分辨率的测定
当电子束射入到样品后
通过样品的透射束和衍射束之间
会存在着相位差
由于透射束和衍射束之间的相位不同
它们之间通过动力学干涉
在像平面上形成能反映晶面间距大小
和晶面方向的条纹像即晶格条纹像
可以利用外延生长的方法
制定出单向单晶薄膜作为标样来拍摄晶格像
这张图就是利用金的晶格条纹像
所测得的晶格分辨率
根据仪器分辨率的高低
选择晶面间距不同的样品作为标样
需要说明的是晶格分辨率
与点分辨率是不同的
点分辨率就是实际的分辨率
而晶格分辨率的晶格条纹像
是因为位向差所引起的干涉条纹
实际上是晶面间距的比例图像
我们再来看一下透射电镜放大倍数的测定
透射电镜的放大倍数随着样品平面高度
加速电压透镜电流而发生变化
透射电子显微镜在使用过程中
各元件的电磁参数会发生少量变化
从而影响到放大倍数的精度
因此
透射电镜的放大倍数必须定期来进行标定
对于放大倍数的标定
根据不同的要求
有不同的标定方法
最常用的方法是使用衍射光栅复型标样法
在一定的加速电压透镜电流的条件下
拍摄标样的放大像
然后从底片上测量光栅条纹像的平均间距
并与实际光栅条纹间距相比
即为该条件下的放大倍数
还可以使用光栅复型上喷镀碳微粒法
碳的微粒间距较光栅的微粒间距小
用光栅间距标定碳粒间距
就可以扩大标定范围
适用于5千到5万倍的情况
在高的放大倍数下
比如说在10万倍以上的情况
这个时候可以采用前面用来测定
晶格分辨率的晶体样品作为标样
来拍摄晶格的条纹像
测量晶格像条纹间距
再计算条纹像间距与实际晶面间距的比值
即为相应条件下仪器的放大倍数
我们这节课就介绍到这里
-1.1 晶体、空间点阵及晶体学参数
-1.2 倒易点阵
--布拉菲点阵
-1.3 晶体的宏观对称
--晶体的宏观对称
-1.4 晶体的微观对称
--晶体的微观对称
-1.5 倒易点阵
--倒易点阵
-1.6 倒易点阵的应用
--倒易点阵的应用
-1.7 晶体投影
--晶体投影
-1.8 晶体投影的应用
--晶体投影的应用
-1.9 单晶体标准投影图
--单晶体标准投影图
-1.9 单晶体标准投影图--作业
-2.1 X射线的产生
--X射线的产生
-2.2 X射线与物质的相互作用
-2.3 X射线的吸收限与滤波片
-2.4 连续X射线
--连续X射线
-2.5 特征X射线
--特征X射线
-2.5 特征X射线--作业
-3.1 一个电子对X射线的散射
-3.2 一个原子对X射线的散射
-3.3 简单晶体对X 射线的衍射
-3.4 复杂晶体对X射线的衍射
-3.5 爱瓦德作图法
--爱瓦德作图法
-3.5 爱瓦德作图法--作业
-4.1 粉末照相法
--粉末照相法
-4.2 多晶衍射仪
--多晶衍射仪
-4.3 多晶体衍射峰特征
--多晶体衍射峰特征
-4.4 多晶体衍射峰强度
--多晶体衍射峰强度
-4.5 多晶体花样分析
--多晶体花样分析
-4.5 多晶体花样分析--作业
-5.1 晶块尺寸与微观应力的宽化
-5.2 晶胞常数的精确确定
-5.3 宏观应力的测定
--宏观应力的测定
-5.4 织构的表征
--织构的表征
-5.5 织构的测定
--织构的测定
-5.6 织构分析
--织构分析
-5.7 物相定性分析
--物相定性分析
-5.8 物相定量分析
--物相定量分析
-5.8 物相定量分析--作业
-6.1 电子波与电磁透镜
--电子波与电磁透镜
-6.2 电磁透镜的像差与分辨率
-6.3 电磁透镜的景深和焦长
-6.3 电磁透镜的景深和焦长--作业
-7.1 透射电子显微镜的结构与成像原理
-7.2 透射电子显微镜主要部件的结构与工作原理
-7.3 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定
-7.4 透射电子显微镜样品制备
-7.4 透射电子显微镜样品制备--作业
-8.1 概述
--概述
-8.2 电子衍射原理
--电子衍射原理
-8.3 晶带定律与零层倒易截面
-8.4 倒易阵点的扩展与偏移矢量
-8.5 倒易阵点与电子衍射图的关系
-8.6 衍射斑点指数化
--衍射斑点指数化
-8.7 选区电子衍射
--选区电子衍射
-8.8 单晶电子衍射花样的标定
-8.9 复杂电子衍射花样的标定
-8.9 复杂电子衍射花样的标定--作业
-9.1 衍射衬度成像原理
--衍射衬度成像原理
-9.2 消光距离
--消光距离
-9.3 衍衬运动学
--衍衬运动学
-9.4 衍衬动力学简介
--衍衬动力学简介
-9.5 晶体缺陷分析
--晶体缺陷分析
-9.5 晶体缺陷分析--作业
-10.1 电子束与固体样品作用时产生的信号
-10.2 扫描电子显微镜的构造和工作原理
-10.3 扫描电子显微镜的主要性能
-10.4 表面形貌衬度原理及其应用
-10.5 原子序数衬度原理及其应用
-10.6 电子探针仪的结构与工作原理
-10.7 电子探针仪的分析方法及应用
-10.7 电子探针仪的分析方法及应用--作业
