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好的 下面让我们看第二题

同样的请先听我的介绍

再自己思考最后听我的分析

这是第二题的题目

考虑一个NMOS晶体管有

如题中所述的CMOS工艺电容参数

这里我们有一个标记为m1的NMOS晶体管

我们假设所有的电容集成在

一个位于VG和GROUND之间的

独立电容器中

对于m1它包含的参数包括CGSO

CGSO表示栅极和

源极之间单位栅极长度对应的交叠电容

CGDO表示栅极和漏极之间

单位漏极长度对应的交叠电容

同样还有COX

COX表示栅极外侧单位长度的电容

CJ这里表示衬底中

扩散区域的结电容

Mj则表示了衬底中

扩散区域的浓度梯度系数

参数Cjsw中的

sw是侧壁sidewall的缩写

该参数表示3个侧壁中

扩散区域的单位长度结电容

同样的mjsw表示

侧壁中的扩散浓度梯度系数

同时横向扩散等于LD

并且我们知道扩散的宽度

晶体管参数中还有AD PD AS PS

AD表示漏极的面积

PD表示漏极的长度参数

AS表示源极的面积

PS表示源极的长度参数

这里我们有三个问题

首先我们考虑图中的结构

其中VDD等于VT

VT表示晶体管的阈值电压

假设Vg的初值等于0

此外还有一个值为Iin的电流源

从时间为0时就开始工作

假设我们上文提到的所有电容集成

在一个位于Vg和Ground

之间的独立电容中

这个电容我们称作CT

我们需要求解当Vg

达到2倍VT时的时间表达式

这是第一个问题

第二个问题显然是

我们该如何计算CT

在Cdb Csb Cgs Cgd Cgb之中

它们分别表示漏极和衬底

栅极和衬底

栅极和源极栅极和漏极栅极和衬底之间的电容

那么在这些MOS管寄生电容中

哪些对CT电容有贡献呢

对这些寄生电容请通过列出公式

来说明它们是怎么对CT产生影响的

这里请只用题中给出的电容

如果晶体管进入不同的工作区域中

将会影响电容的值

对每一个工作区域通过表达式指出

这些寄生电容的贡献变化

同时指出工作区域

这是第二个问题

第三个问题如图中给出

当输入为0时

同时电流源仍然是Iin

我们假设所有的电容都集成在

位于VD和GROUND之间独立电容中

同样的在Cdb Csb Cgs Cgd Cgb中

哪些电容对整个漏电容有贡献

推导出当Vd从0到两倍VT变化时

CT的平均值表达式

然后再一次区分

不同的工作区域之间的差别

以上就是对问题的基本描述

你可以暂停视频仔细思考

再听我接下来的分析

在我开始分析之前我先

介绍一下这一题相关的知识点

首先是MOS晶体管的

沟道电容的分布

可以看出在截止区域中

所有的电容

都位于栅极和衬底之间

也就等于C乘以W乘以L

在截止区域中

栅极和源极以及

栅极和漏极之间的沟道电容都等于0

这就是截止区域时的电容分布

然而电阻区域中的分布与之不同

可以看出位于

栅极和漏极

以及栅极和源极之间的电容

都等于C乘以W再乘以L再除以2

因此总的电容等于CGCS加CGCD

等于CGC也就是C乘以W再乘以L

在饱和区域中

在栅极和漏极以及栅极和

衬底之间并没有任何沟道电容

这是由于电场被沟道屏蔽了

因此我们只需要考虑

栅极和源极之间的电容

等于2/3乘以C乘以W乘以L

因此总的电容也就

等于2/3乘以C乘以W乘以L

这是由沟道电容

和交叠电容构成的

这里可以看到横向的扩散
you can see here this is a lateral diffusion

同时我们知道CGSO等于CGDO

它们是栅极和源极

栅极和漏极之间单位长度的交叠电容

等于COX乘以WD

就是这个乘以(漏极)宽度

等于右边这个式子

这是一张整个MOS管

结构电容的图片

图中除了结构电容

还有沟道电容

因此你可以看到在栅极和源极之间

我们有交叠电容CGCS

和沟道电容

沟道电容存在于线性区域下

等于WLCox的一半

在截止区域内它等于0

在饱和区等于2/3乘以WL乘以Cox

栅极和漏极之间的电容

等于CGDO加上CGCD

因此CGCD是

栅极和漏极之间的沟道电容

在线性区域等于WL乘以COX的一半

在截止区域以及饱和区域内等于0

这个表达式表示

扩散电容和结电容

包括了1个衬底面积

和3个侧壁的面积

另一边也是1个衬底面积

和3个侧壁面积

同时栅极和衬底之间的电容

表示为CGCB

栅极和衬底之间的沟道电容

只存在于截止模式下

它的值等于WLCox

最后我们来介绍参数Keq

这个符号表示了线性增长因子

这个因子的表达式可以写成这样

实际上在课堂上

我曾经介绍过这个式子

根据给出的这些知识

我会给出这个问题的解答

第一个问题

当Vg等于Vt时

将会变化 我们考虑两种情况

第一个情况是

当电压Vg小于Vt时

从0到Vt变化

因此我们有电容的表达式

也就是Ct(1)

另一个情况是当Vg大于

Vt小于两倍Vt时

此时我们假设电容等于Ct(2)

第一个是在截止模式下

另一个是工作在饱和区域内

因此截止模式下需要的时间

等于CT(1)乘以Vt比上输入电压Iin

饱和模式下需要的时间等于CT(2)乘以

2倍Vt减去VT比上Iin

因此花费的总时间

等于第一个时间加第二个时间

这就是第一个问题的解

第二道题中

如果我们知道了当Vg

大于0小于VT时

等于这个式子

这个式子等于

这是截止工作区域下的沟道电容

这是一个交叠电容

包括处在栅极和漏极之间

以及栅极和源极之间的电容

当Vg大于VT小于两倍VT时

此时CT(2)等于

2/3乘以Cox乘以WL

这个表达式表示了

饱和区域下沟道电容

仅仅存在于栅极和源极之间

等于2/3乘以Cox乘以WL

加上W乘以Cgdo加上Cgso

因此只要我们知道了这个值

就可以代入这个式子

从而推导出电压

增长到2倍VT需要的时间

最后一题是说

当CT等于这个值时

Vout充电

从0变化到2倍的Vt

因此我们需要使用

线性增长因子来求解

首先我们要计算

线性增长因子keq

因此我们可以把keq代入这个表达式

来计算VT

也就是计算电容CT的均值

这就是第二题的解答

数字集成电路分析与设计课程列表:

Hspice

-1

--文档

Introduction and Implementation Strategies for Digital IC

-1.Introduction to Digital IC

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-2.Architecture of Digital Processor

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-3.Full Custom Design Methodology

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-4.Semicustom Design Methodology

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-5.Quality Metric of Digital IC

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-6.Summary and Textbook Reference

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-7.HW--作业

-7.PPT

--补充材料1

--补充材料2

The Devices

-Key Points Review of Last Lecture

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-1.Introduction

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-2.The Diode

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-3.The MOSFET Transistor

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-4.Secondary Effects

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-5.Summary and Textbook Reference

--Video

-6.HW--作业

-6.PPT

--补充材料

The CMOS Inverter I

-Key Points Review of Last Lecture

--Video

-1.Introduction

--Video

-2.Static Behavior

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-3.HW--作业

-3.PPT

--补充材料

The CMOS Inverter II

-Key Points Review of Last Lecture

--Video

-1.Dynamic Behavior I

--Video

-2.Dynamic Behavior II

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-3.Power Dissipation

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-4. Summary and Textbook Reference

--Video

-5.HW--作业

-5.PPT

--补充材料

Combinational Logic Circuits I

-1.Introduction

--Video

-2.Static CMOS Design I

--Video

-3.Static CMOS Design II

--Video

-4.HW--作业

-4.PPT

--补充材料

Combinational Logic Circuits II

-Key Points Review of Last Lecture

--Video

-1.Static CMOS Design III

--Video

-2.Static CMOS Design IV

--Video

-3.Dynamic CMOS Design

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-4.Summary

--Video

-5.HW--作业

-5.PPT

--补充材料

Sequential Logic Circuits I

-1.Introduction I

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-2.Introduction II

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-3. Static Latches and Registers I

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-4.Static Latches and Registers II

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-5.Static Latches and Registers III

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-6.HW--作业

-6.PPT

--补充材料

Sequential Logic Circuits II

-1.Key Points Review

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-2.Dynamic Latches and Registers I

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-3.Dynamic Latches and Registers II

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-4.Dynamic Latches and Registers III

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-5.Pulse Register

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-6.Pipelining

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-7.Schmitt Trigger

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-8.Summary and Textbook Reference

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-9.HW--作业

-9.PPT

--补充材料

Designing Arithmetic Building Blocks I

-1. Introduction

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-2. Adder: Full Adder (Definition)

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-3. Adder: Circuit Design

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-4. Adder: Logic Design I

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-5. Adder: Logic Design II

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-6. Adder: Summary

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-7.HW--作业

-7.PPT

--补充材料

Designing Arithmetic Building Blocks II

-1. Key Points Review

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-2. Multiplier

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-3. Shifter

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-4. Summary and Textbook Reference

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-5. HW--作业

-5. PPT

--补充材料

The Wire

-1. Introduction

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-2. Capacitance

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-3. Resistance

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-4. Electrical Wire Models

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-5. Summary and Textbook Reference

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-6. HW--作业

-6. PPT

--补充材料

Coping with Interconnect

-1. Introduction

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-2. Capacitive Parasitics

--Video

-3. Capacitive Parasitics II

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-4. Resistive Parasitics

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-5. Summary and Textbook Reference

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-6. HW--作业

-6. PPT

--补充材料

Assignment Solving

-1. Assignment Solving

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-2. The teaching assistants want to say

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Exercise I

-1. Problem 1

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-2. Problem 2

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-3. Problem 3

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-4. Problem 4

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-5. Problem 5

--Video

-6. Problem 6

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-7. Problem 7

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Exercise II

-1. Problem 8

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-2. Problem 9

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-3. Problem 10

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-4. Problem 11

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-5. Problem 12

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-6. Problem 13

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-7. Problem 14

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